2021年11月3日-4日，由中国仪器仪表学会和IEEE Beijing Section联合主办的IEEE第15届国际电子测量与仪器学术会议在江苏省南京市隆重召开。我校电气与光电工程学院张春龙博士应邀做了题为“Study on the influence of the thermal effect of multi-pulse lightning current on the aging characteristics of ZnO varistor”的学术报告，介绍了ZnO压敏电阻的雷击损坏机理和多脉冲雷电流热效应对低压配电系统电涌保护器的老化影响机制，得到了与会专家的肯定。
IEEE国际电子测量与仪器学术会议是两年一度的学术盛会，从1992年至今已成功举办过14届，为电气电子测量与仪器领域的发展现状和前景的研讨及尖端技术的交流搭建了一个有效的平台。来自世界各地的数百位专家、教授、学者和工程技术人员出席了此次会议，围绕电子测量与仪器领域中的最新学术进展和热点问题进行深入探讨，为该领域的研究学者提供了一个展示最新前沿科研成果的平台。
会议期间，张春龙博士同国内外电气电子仪器领域顶级的科研工作者进行了充分的学术交流，进一步了解到该领域各个方向的最新研究成果和动向。通过此次会议交流，加强了与国内外知名专家学者的联系，提高了我校的行业知名度。（文/图 张春龙 审核/张刚）